Aparatura

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko do badania stabilności próbek ciekłych oraz oceny stabilności pian

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko do analizy wielkośći cząstek i potencjału zeta w układach ciekłych

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko do analizy rozkładu cząstek w cieczy

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko mikroskopii skaningowej

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko do pomiaru gęstości helowej

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko do pomiaru powierzchni właściwej

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko do badań termograwimetrycznych

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop optyczny Nikon

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Dyfraktometr rentgenowski (XRD)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Goniometr RTG Delta Technologies do orientowania kryształów (3 szt.)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Chropowatościomierz Mitutoyo

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker