| Nazwa: | Stanowisko mikroskopii skaningowej |
| Osoba kontaktowa: | Jan Mizeracki, e-mail:j.mizeracki@labnano.pl |
| Laboratorium: | NL-4 |
| Lokalizacja: | ul. Sokołowska 29/37 Warszawa |
Możliwości badawcze i dane techniczne
Stanowisko wyposażone jest w skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) Zeiss Ultra Plus, przeznaczony do wysokorozdzielczej obserwacji morfologii i topografii powierzchni materiałów. Mikroskop umożliwia analizę struktur w skali mikrometrów i nanometrów, pozwalając na dokładne badanie powierzchni proszków, powłok, kompozytów oraz materiałów biologicznych. Urządzenie umożliwia detekcję kontrastu topograficznego i materiałowego, co pozwala rozróżnić fazy, granice ziaren i defekty w próbkach. Dzięki integracji z systemem EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) możliwa jest również analiza składu pierwiastkowego. Wysoka rozdzielczość i zaawansowane tryby obrazowania pozwalają na badania strukturalne i jakościowe materiałów w nauce i przemyśle.