Aparatura

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Multifunctional SEM-based, characterization setup

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Nanometer-precise direct optical butt-coupling system for PICs investigation

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Master oscillator power amplifier optical coupling system

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Ultra-high spectral resolution system for laser diode characterization

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Optical setup for temperature- and pressure-dependent photoluminescence measurements

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Badania przeciążeniowe zbiorników ciśnieniowych

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Kriogeniczny pomiar własności elektrycznych

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Pomiar dyfuzji wodoru przez materiały polimerowe

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Profilometr HOMMEL-TESTER T8000

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop metalograficzny NIKON ECLIPSE LV150N

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Skaningowy mikroskop elektronowy HITACHI TM-3000 z przystawką EDS 300 Oxford

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Twardościomierz Zwick/Roell ZHV