Podsumowanie konferencji DRIP21. Dr hab. inż. Julita Smalc-Koziorowska została przewodniczącą Międzynarodowego Komitetu Sterującego

W dniach 30 sierpnia - 3 września 2026 roku w Warszawie odbyła się 21. edycja międzynarodowej konferencji Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP21), organizowana przez Instytut Wysokich Ciśnień PAN oraz Instytut Fizyki PAN. Konferencja była poświęcona badaniom defektów w materiałach półprzewodnikowych oraz najnowszym osiągnięciom w zakresie ich identyfikacji, obrazowania i charakteryzacji.

W konferencji wzięło udział 86 uczestników z 17 krajów. Program naukowy obejmował prezentacje dotyczące najnowszych osiągnięć w zakresie różnych technik badawczych stosowanych do analizy defektów oraz badań defektów w szerokiej gamie materiałów półprzewodnikowych, w tym azotkach, węgliku krzemu oraz nowych materiałach półprzewodnikowych. Istotną część programu stanowiły również zagadnienia związane z modelowaniem defektów i ich wpływem na właściwości materiałów.

Kolejna, 22. edycja konferencji z tej serii odbędzie się w 2028 roku w Hangzhou w Chinach, a jej organizatorem będzie Zhejiang University.

Podczas konferencji odbyło się również spotkanie Międzynarodowego Komitetu Sterującego konferencji DRIP. Funkcję przewodniczącej tego komitetu objęła dr hab. inż. Julita Smalc-Koziorowska z Instytutu Wysokich Ciśnień PAN. Gratulujemy!