| Nazwa: | Transmisyjny Mikroskop Elektronowy FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN (200 kV) |
| Osoba kontaktowa: | Dr hab. inż. Julita Smalc-Koziorowska julita@unipress.waw.pl, Dr inż. Artur Lachowski artur@unipress.waw.pl, Dr inż. Joanna Moneta joanna.moneta@unipress.waw.pl |
| Laboratorium: | NL-12 |
| Lokalizacja: | al. Prymasa Tysiąclecia 98, Warszawa |
Możliwości badawcze i dane techniczne
Transmisyjny mikroskop elektronowy FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN to zaawansowane narzędzie do badań strukturalnych materiałów. Umożliwia pracę zarówno w trybie TEM (Transmision Electron Microscopy), jak i STEM (Scanning TEM), dzięki czemu może być szeroko stosowany w badaniach materiałów nanostrukturalnych, metali, ceramiki, półprzewodników i kompozytów. Urządzenie wyposażone jest w działo z emisją polową (FEG) typu Schottky. Oferowane techniki badawcze: BF/DF-TEM, obrazowanie w słabej wiązce, dyfrakcja elektronowa, dyfrakcja w zbieżnej wiązce (CBED, LACBED), High-Angle Annular Dark Field (HAADF) – STEM. Mikroskop umożliwia badania nanostruktur, defektów, granic ziaren i interfejsów, wysokiej rozdzielczości obrazowanie mikrostruktury materiałów, analiza krystalograficzna i dyfrakcja elektronów.