Aparatura

Wytwarzanie materiałów i struktur

Reaktory do krystalizacji GaN metodą amonotermalną (zasadową), φ=20 (5 szt.)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Dyfraktometr rentgenowski (XRD)

Wytwarzanie materiałów i struktur

Komory rękawicowe wysokiej czystości MBRAUN (2 szt.)

Wytwarzanie materiałów i struktur

Polerki CMP (4 szt.)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Goniometr RTG Delta Technologies do orientowania kryształów (3 szt.)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Chropowatościomierz Mitutoyo

Wytwarzanie materiałów i struktur

Piła drutowa TAKATORI WSD‑K2 (SWS)

Wytwarzanie materiałów i struktur

Piła drutowa DWT – typ MES (2 szt.)

Wytwarzanie materiałów i struktur

Piła drutowa DWT – typ SWS (2 szt.)

Wytwarzanie materiałów i struktur

Polerki stołowe LAM PLAN (8 szt.)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

System metrologii optycznej / interferometr ATOS